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9. Kontrastverfahren für Leica DM4000 B/DM4500 P/DM5000 B
• Stecken Sie die λ/4-Platte (69.5) in den Tubus-
schlitz ein.
• Stecken Sie die λ/4-Platte (69.1) in die Auf-
nahme oberhalb des Polarisators ein und dre-
hen Sie, bis das objektfreie Sehfeld in maxi-
maler Dunkelstellung erscheint (Polarisatoren
zuvor exakt kreuzen!).
Kompensatoren für quantitative Messungen
Verstellbare Kompensatoren dienen zur exakten
Messung von Gangunterschieden.
Bei bekannter Objektdicke d und dem gemesse-
nen Gangunterschied Gamma (Γ) kann die Dop-
pelbrechung ∆n’ gemäß folgender Formel be-
rechnet werden:
Γ = d x ∆n’ [nm] bzw. ∆n = ––
Bei der Messung wird der Kompensator in den
Kompensatorschlitz eingeführt und so lange ver-
stellt, bis sich die zu messende Objektstelle in
maximaler Dunkelstellung befindet. Das Objekt
muss hierzu in eine bestimmte Diagonallage ge-
bracht werden.
Bei Tubusoptik HC P Messstellen evtl. mittels
Irisblende ausblenden.
Einzelheiten sind den Kompensatoranleitungen
zu entnehmen.
Folgende Kompensatoren stehen zur Verfügung:
Elliptischer Kompensator nach Brace-Köhler
69.9)
Dreh-Kompensator mit Kompensatorplättchen,
Gangunterschied von ca. λ/10. Die Messung er-
folgt in weißem oder monochromatischem Licht,
Messbereich bis ca. 50 nm.
Elliptischer Kompensator nach Sénarmont (69.6)
( λ/4-Plättchen in Subparallelstellung)
Die Messung erfolgt in monochromatischem
Licht (546 nm), wobei der um 360° drehbare Ana-
lysator erforderlich ist. Im Normalfall dient die-
ser Kompensator zur Messung von Gangunter-
schieden bis maximal 1 Ordnung. Es können
jedoch auch höhere Gangunterschiede gemes-
sen werden. Die Kompensation ergibt dann
d
Γ
Abb. 69 Kompensatoren
1, 2 λ/4 u. λ-Platte. Nur für Polarisationsmikroskope: 3 λ/4 u. λ-Platte für Revolverscheibe 8fach, 4, 5 λ/4 u. λ-Platte
fürTubusschlitz, 6 Drehbare λ/4-Platte (Sénarmont-Kompensator), 7 Quarzkeil, 8 Kippkompensator, 9 Kompensator nach
Brace-Köhler
1
2
3
4
5
6
7
9
8