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10. Messungen mit dem Mikroskop
10.1 Längenmessungen
Für Längenmessungen sind erforderlich:
- Strichplatte* mit Teilung im Okular oder ein di-
gitales Längenmessokular*.
- Objektmikrometer zur Eichung.
(→ Abb. 50)
Mikrometerwert
Vor der Messung muss der Mikrometerwert der
benutzten Objektiv-Okular-Kombination bekannt
sein, d.h., die Strecke im Präparat, die einem
Teilstrichabstand der benutzten Strichplatte ent-
spricht.
Zur Ermittlung des Wertes gehen Sie
folgendermaßen vor:
• Richten Sie Objektmikrometer und Strichplatte
durch Drehen des Okulars parallel zueinander
aus und bringen Sie die Nullstriche beider
Skalen auf exakt gleiche Höhenposition
• Lesen Sie ab, wieviel Skalenteile des Objekt-
mikrometers wieviel Skalenteilen der
Mikroskopskala (Strichplatte) entsprechen
• Dividieren Sie beide Werte; das Ergebnis er-
gibt den Mikrometerwert für die eben benutz-
te Gesamtvergrößerung
Beispiel:
Treffen 1.220 mm des Objektmikrometers auf 100
Skalenteile der Messskala, so ist der Mikrometerwert =
1,220:100 = 0,0122 mm = 12,2 μm. Bei sehr schwach ver-
größernden Objektiven kann zur Eichung u.U. nur ein
Teil der Messskala benutzt werden.
Hinweise:
Bei Verwendung eines Vergrößerungs-
wechslers* muss der Vergrößerungsfaktor be-
rücksichtigt werden! Es empfiehlt sich unbe-
dingt, die Eichung für jedes Objektiv und jeden
Faktor des Vergrößerungswechslers individuell
durchzuführen und nicht aus der Eichung mit ei-
nem Objektiv die Mikrometerwerte der übrigen
Objektive bzw. Vergrößerungsstufen rechne-
risch zu extrapolieren.
Messfehler können entstehen, wenn das Okular
nicht bis zum Anschlag in den Tubus eingesteckt
ist.
Besonders große Objektstrukturen können auch
unter Verwendung der Nonien (0,1mm) auf dem
Objekttisch bestimmt werden; dabei ist die zu
messende Strecke evtl. aus einer kombinierten
x- und y-Messung rechnerisch zu bestimmen.
10. Messungen mit dem Mikroskop
Abb. 50
Teilung der Strichplatte im Okular (links) und Bild des
Objektmikrometers (rechts)